DFT，即可测试性设计（Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。
ATE：ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。
BIST：BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度。现在，高度集成的电路被广泛应用，测试这些电路需要高速的混合信号测试设备。BIST技术可以通过实现自我测试从而减少对ATE的需求。
优点：
在芯片测试中scan和bist有什么区别？
bist是内建自测试，一般有rambist、flashbist等，它是内部集成专门测试算法，同时还包括测试控制电路，输出结果比较等电路，它是芯片中实际电路；scan是一种结构性测试，它将芯片内部的寄存器替换成专门的寄存器，然后连接成1条链或多条，这种方式只需要在输入端输入pattern，在输出端对比输出即可，它不care芯片功能，可以节省很多测试case开发时间，同时也减少测试时间
作者：高建新
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